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双模随机交错晶场中最近邻弱交换相互作用对重入现象的影响

作者:李晓杰 王渺渺 李新军 刘萍 陈文龙

摘要:
       利用有效场理论研究了双模随机交错晶场中混合自旋Blume-Capel模型纳米管系统的重入现象,发现了系统的重入现象与晶场取值概率、晶场强度和外壳层与内壳层格点间最近邻交换相互作用的关系.结果表明:取值概率、交换相互作用、晶场强度和温度等诸多因素相互竞争,使系统表现出丰富的磁化现象:正(负)晶场较弱时,系统只发生二级相变;随着正(负)晶场增强,系统的二级相变消失,呈现一级相变;一定条件下,系统会出现重入现象. 


关键字:重入现象;   磁化强度;   有效场理论;   Blume-Capel模型;   纳米管;   


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